(87) Silizezko nanopartikulen egituraren analisia espektroskopia infragorriaren bidez

Laburpena

Material amorfoen arloan nanomaterial beirakaren inguruko ikerketak ardatz nagusietako bat osatzen du. Material horien propietate optikoak eta egitura molekularra aztertzeko, erabilgarria suertatzen da erreflektantzia infragorriko neurketak burutzea, izaera kualitatiboa izan ohi dutenak. Silizearen sare amorfoan rol garrantzitsua jokatzen dute Q3 eta Q4 izeneko egitura molekular tetraedrikoek, sarearen konektibitatea zehazten dute-eta, materialaren propietateetan eragiten duena. Hori dela eta, lan honetan erreflektantzia espektroskopian oinarritutako silize nanopartikulen Q3 eta Q4 egituren populazioa kalkulatzeko metodo kuantitatiboa aurkeztuko da. Emaitzak erresonantzia magnetiko nuklear esperimentuan lorturikoekin parekatuko dira horien baliozkotasuna egiaztatzeko.